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はじめてのデバイス評価技術

第2版

出版社名 森北出版
出版年月 2012年9月
ISBNコード 978-4-627-77442-1
4-627-77442-7
税込価格 2,640円
頁数・縦 11,179P 22cm

商品内容

要旨

半導体デバイス評価を学ぶならこの一冊で十分。評価フェーズごとの詳細な解説!知りたい情報が詰まってる。

目次

第1章 半導体デバイスの特徴
第2章 デバイス評価技術概要
第3章 信頼性試験
第4章 故障解析
第5章 寿命データ解析
第6章 具体例・応用事例

おすすめコメント

半導体デバイス評価技術全般を、初心者向けに解説した入門書。著者の豊富な経験を元に、デバイス評価の各段階を丁寧に説明してあります。各種プロット法の詳しい説明が掲載され、すぐに応用できるようになっています。最終章の「具体例・応用事例」には、実際の事例で得られた各種画像が掲載され、典型例が示されています。読みが入った略語一覧付き。 ※本書は2000年1月に工業調査会から発行された初版に、加筆・訂正を加えて第2版として刊行したものです。

著者紹介

二川 清 (ニカワ キヨシ)  
1974年大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。日本電気株式会社(NEC)入社(〜2009年)。1990年デバイス評価技術研究所主管研究員など歴任。2007年金沢工業大学大学院客員教授(〜現在)。2010年大阪大学大学院特任教授(〜2012年)(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)