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表面分析

分析化学実技シリーズ 応用分析編 1

出版社名 共立出版
出版年月 2011年8月
ISBNコード 978-4-320-04391-6
4-320-04391-X
税込価格 3,132円
頁数・縦 182P 21cm

商品内容

目次

1 表面分析序論(表面分析の目的・背景
表面分析の手法 ほか)
2 赤外・ラマン分光法(赤外分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴
ラマン分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴 ほか)
3 X線光電子分光法(XPS、ESCA)(XPSの原理と特徴
XPS装置 ほか)
4 二次イオン質量分析法(SIMS)(SIMSの原理と特徴
SIMSの装置 ほか)
5 番行時間型二次イオン質量分析法(TOF‐SIMS
Static SIMS)(TOF‐SIMSの原理と特徴
TOF‐SIMSの装置 ほか)
付録 主な元素の化学シフト

著者紹介

石田 英之 (イシダ ヒデユキ)  
1972年大阪大学大学院基礎工学研究科化学系博士課程修了・工学博士。現在、大阪大学特任教授(元(株)東レリサーチセンター代表取締役副社長)。専門は物理化学、分子分光
吉川 正信 (ヨシカワ マサノブ)  
1986年大阪大学大学院工学研究科応用物理学科博士課程修了・工学博士。現在、(株)東レリサーチセンター理事兼リサーチフェロー。専門は応用物理学
中川 善嗣 (ナカガワ ヨシツグ)  
1986年京都大学大学院理学研究科物理学第一専攻修士課程修了。現在、(株)東レリサーチセンター表面解析研究部部長。専門は物性物理学、高分子物理学、表面分析
宮田 洋明 (ミヤタ ヒロアキ)  
2002年奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士課程修了。専門は光電子分光法、放射光科学、表面分析
加連 明也 (カレン アキヤ)  
1984年大阪大学大学院基礎工学研究科化学系博士前期課程修了。現在、(株)東レリサーチセンター表面科学研究部部長。専門は物理化学、表面分析(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)