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    • 本

    ソフトウェア・テストの技法

    第２版

    出版社名 近代科学社
    出版年月 2006年7月
    ISBNコード 978-4-7649-0329-6
    （4-7649-0329-6）
    税込価格 3,520円
    頁数・縦 ２２１Ｐ　２２ｃｍ
    シリーズ名 ソフトウェア・テストの技法

    商品内容

    目次

    第１章　自己診断テスト
    第２章　プログラム・テストの心理学と経済学
    第３章　プログラムの検査、ウォークスルー、検討
    第４章　テスト・ケースの設計
    第５章　モジュール（単体）・テスト
    第６章　上級テスト
    第７章　デバッグ
    第８章　エクストリーム・テスト
    第９章　インターネット・アプリケーションのテスト

    著者紹介

    マイヤーズ，Ｊ． (マイヤーズ，Ｊ．)　　 Ｍｙｅｒｓ，Ｇｌｅｎｆｏｒｄ　Ｊ．
    ソフトウェアの信頼性とコンピュータ・アーキテクチャの分野における教育・研究・コンサルティングに従事している。ＩＢＭ　ＳＲＩ（Ｓｙｓｔｅｍｓ　Ｒｅｓａｒｃｈ　Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ）のシニア・スタッフ・メンバ
    バジェット，Ｔ． (バジェット，Ｔ．)　　 Ｂａｄｇｅｔｔ，Ｔｏｍ
    ＩｄｌｅＡｉｒｅ　Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ社のＣＩＯ（情報担当役員）でＰＣＪｒ　ｍａｇａｚｉｎｅなどの技術編集者を歴任
    トーマス，Ｍ． (トーマス，Ｍ．)　　 Ｔｈｏｍａｓ，Ｔｏｄｄ　Ｍ．
    ソフト開発とＤＢＡの専門家でＪａｖａ　Ｄａｔａ　Ａｃｃｅｓｓの著者
    サンドラー，Ｃ． (サンドラー，Ｃ．)　　 Ｓａｎｄｌｅｒ，Ｃｏｒｅｙ
    Ｗｏｒｄ　Ａｓｓｏｃｉａｔｉｏｎ社の社長でＦｉｘ　Ｙｏｕｒ　Ｏｗｎ　ＰＣの著者
    長尾　真 (ナガオ　マコト)　　
    １９５９年京都大学工学部電子工学科卒業。１９６１年京都大学大学院修士課程修了。１９７３年京都大学教授。１９９７‐２００３年京都大学総長。現在、独立行政法人情報通信研究機構理事長。工学博士（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）