精密計測学　Ｂｉｌｉｎｇｕａｌ　ｅｄｉｔｉｏｎ/高偉／他著本・コミック：オンライン書店e-hon

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精密計測学　Ｂｉｌｉｎｇｕａｌ　ｅｄｉｔｉｏｎ

高偉／他著

出版社名	朝倉書店
出版年月	2024年4月
ISBNコード	978-4-254-20178-9 （4-254-20178-8）
税込価格	3,190円
頁数・縦	１８２Ｐ　２１ｃｍ

商品内容

目次	１　精密計測の基準２　長さスケール３　角度スケール４　時間スケール５　幾何形状と表面性状の計測６　光干渉計７　マシンビジョン８　空間位置計測９　光学顕微鏡１０　走査プローブ顕微鏡１１　誤差要因と不確かさ１２　自律校正法１３　機械学習と精密計測１４　超短パルスレーザと光周波数コム

著者紹介

高　偉 (コウ　イ)　　: 東北大学大学院工学研究科教授

清水　裕樹 (シミズ　ユウキ)　　: 北海道大学大学院工学研究院教授

水谷　康弘 (ミズタニ　ヤスヒロ)　　: 大阪大学大学院工学研究科准教授

道畑　正岐 (ミチハタ　マサキ)　　: 東京大学大学院工学系研究科准教授

河野　大輔 (コウノ　ダイスケ)　　: 京都大学大学院工学研究科准教授

吉田　一朗 (ヨシダ　イチロウ)　　: 法政大学大学院理工学研究科教授

伊東　聡 (イトウ　サトシ)　　: 富山県立大学工学部准教授

清水　浩貴 (シミズ　ヒロキ)　　: 九州工業大学大学院工学研究院准教授（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）