Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
The Springer International Series in Engineering and Computer Science
Bhattacharya, Debashis
Hayes, John P.
- 出版社：Springer-Verlag New York Inc
- 出版年月：2011年 09月
- ISBN：9781461288190
- 装丁：PAP
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装丁について
- 言語：ENG
- 版次：Reprint
- 巻数・ページ数：176 p.
- DDC分類：670