ＶＬＳＩ試験の原理とアーキテクチャ
VLSI Test Principles and Architectures
Design for Testability
Systems on Silicon
Wang, Laung-Terng
Wu, Cheng-Wen
Wen, Xiaoqing
- 出版社：Morgan Kaufmann Publishers in
- 出版年月：2006年 08月
- ISBN：9780123705976
- 装丁：HRD
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装丁について
- 言語：ENG
- 巻数・ページ数：808 p.
- 分類： 電子材料・デバイス
- DDC分類：621.395
- 内容紹介：
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Covers the entire spectrum of VLSI testing from digital, analog, to memory circuits, and fault diagnosis and self-repair from digital to memory circuits.