Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links
Lecture Notes in Electrical Engineering
Hong, D.
Cheng, K. T.
- 出版社：Springer
- 出版年月：2009年 11月
- ISBN：9789048134427
- 装丁：HRD
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装丁について
- 言語：ENG
- 巻数・ページ数：98 p.
- 分類： 電子回路
- DDC分類：621
- 内容紹介：
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One primary focus is on efficient testing methods for jitter and bit-error-rate (BER), which are widely used for quantifying the quality of a communication system.