Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Devices, Circuits, and Systems
Goel, Sandeep K. (EDT)
Chakrabarty, Krishnendu (EDT)
- 出版社：CRC Press Inc
- 出版年月：2013年 10月
- ISBN：9781439829417
- 装丁：HRD
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装丁について
- 言語：ENG
- 巻数・ページ数：259 p.
- 分類： 電子回路
- DDC分類：621.3815