イオンビーム解析：基礎と応用
Ion Beam Analysis
Fundamentals and Applications
Nastasi, Michael
Mayer, James W.
Wang, Yongqiang
- 出版社：CRC Press Inc
- 出版年月：2014年 08月
- ISBN：9781439846384
- 装丁：HRD
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装丁について
- 言語：ENG
- 巻数・ページ数：472 p.
- 分類： 材料工学一般 , オプトエレクトロニクス
- DDC分類：620.1127
- 内容紹介：
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Explains basic characterstics of ion beams as applied to the analysis of materials, as well as IBA of art/archaeological objects.