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High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

Eggersglu, Stephan

Drechsler, Rolf

  • 出版社：Springer Verlag
  • 出版年月：2012年 01月
  • ISBN：9781441999757
  • 装丁：HRD

  • 装丁について

  • 言語：ENG
  • 巻数・ページ数：193 p.
  • DDC分類：621
内容紹介：

A comprehensive introduction. Describes a highly fault efficient SATbasedATPG framework.

税込価格：

24,124円
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