CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
MRS Proceedings
Demkov, Alexander A. (EDT)
Taylor, Bill (EDT)
Harris, H. Rusty (EDT)
- 出版社：Materials Research Society
- 出版年月：2009年 11月
- ISBN：9781605111285
- 装丁：HRD
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装丁について
- 言語：ENG
- 巻数・ページ数：194 p.
- DDC分類：620.00452