Photo-Excited Charge Collection Spectroscopy
Probing the traps in field-effect transistors
SpringerBriefs in Physics
Im, S.
Kim, J.
Chang, Y.-G.
- 出版社：Springer
- 出版年月：2013年 04月
- ISBN：9789400763913
- 装丁：PAP
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装丁について
- 言語：ENG
- 巻数・ページ数：125 p.
- DDC分類：621
- 内容紹介：
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New and easy method to characterize the electronic structure of organic semiconductor are described.