Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
Frontiers in Electronic Testing
Sheppard, John W. (EDT)
Simpson, William R. (EDT)
- 出版社：Springer Verlag
- 出版年月：2012年 10月
- ISBN：9781461375357
- 装丁：PAP
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装丁について
- 言語：ENG
- 版次：SPI REP
- 巻数・ページ数：246 p.
- DDC分類：621