CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
MRS Proceedings
Demkov, Alexander A. (EDT)
Taylor, Bill (EDT)
Harris, H. Rusty (EDT)
- 出版社：Cambridge University Press
- 出版年月：2014年 06月
- ISBN：9781107408326
- 装丁：PAP
-
装丁について
- 言語：ENG
- 巻数・ページ数：194 p.
- DDC分類：620.00452