走査型電子顕微鏡とＸ線マイクロアナリシス（テキスト・第４版）
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, J. I.
Newbury, D. E.
Michael. J. R.
- 出版社：Springer
- 出版年月：2017年 12月
- ISBN：9781493966745
- 装丁：HRD
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装丁について
- 言語：ENG
- 版次：4TH
- 巻数・ページ数：658 p.
- 分類： 材料工学一般
- DDC分類：620