Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Devices, Circuits, and Systems
Goel, Sandeep K. (EDT)
Chakrabarty, Krishnendu (EDT)
- 出版社：CRC Press
- 出版年月：2017年 03月
- ISBN：9781138075771
- 装丁：PAP
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装丁について
- 言語：ENG
- 巻数・ページ数：264 p.
- DDC分類：621.3815