Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon
Tahoori, Mehdi
Kim, Taeyoung
- 出版社：Springer, Berlin; Springer International Publishing;
- 出版年月：2020年 00月
- ISBN：9783030261740
- 装丁：PAP
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装丁について
- 言語：ENG
- 版次：1st ed. 2019. 2020. xli
- 巻数・ページ数：504 p.