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Applied Logistic Regression

Wiley Series in Probability and Statistics

Hosmer, David W., Jr. Lemeshow, Stanley Sturdivant, Rodney X.
出版社:John Wiley & Sons Inc 出版年月:2013年 04月
装丁:HRD 言語:ENG 版次:3RD
税込価格:

32,542円

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書籍表紙

Applied Survival Analysis

Regression Modeling of Time-to-Event Data

Wiley Series in Probability and Statistics

Hosmer, David W. Lemeshow, Stanley May, Susanne
出版社:Wiley-Interscience 出版年月:2008年 04月
装丁:HRD 言語:ENG 版次:2ND
税込価格:

35,063円

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