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Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging
Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Tan, Cher Ming
Singh, Preetpal
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出版社：Woodhead Publishing
出版年月：2022年 09月
装丁：PAP
言語：ENG
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税込価格：
43,869円
海外在庫あり
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Graphene and VLSI Interconnects
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Tan, Cher-Ming
Narula, Udit
Sangwan, Vivek
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出版社：Jenny Stanford Publishing
出版年月：2021年 11月
装丁：HRD
言語：ENG
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税込価格：
43,118円
海外在庫あり
通常２～５週間で出荷
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Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry
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Tan, Cher Ming (EDT)
Goh, Thong Ngee (EDT)
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出版社：Springer Verlag, Singapore
出版年月：2018年 07月
装丁：PAP
言語：ENG
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税込価格：
48,254円
海外在庫あり
通常２～５週間で出荷
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Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry
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Tan, Cher Ming (EDT)
Goh, Thong Ngee (EDT)
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出版社：Springer Verlag
出版年月：2017年 01月
装丁：HRD
言語：ENG
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税込価格：
48,254円
海外在庫あり
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Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
Springer Series in Reliability Engineering
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Tan, Cher Ming
Li, Wei
Gan, Zhenghao
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出版社：Springer Verlag
出版年月：2013年 04月
装丁：PAP
言語：ENG
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税込価格：
24,124円
海外在庫あり
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Electromigration In Ulsi Interconnections
International Series On Advances In Solid State Electronics And Technology
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Tan, Cher Ming
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出版社：World Scientific Publishing Co Pte Ltd
出版年月：2010年 08月
装丁：HRD
言語：ENG
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税込価格：
24,565円
海外在庫あり
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Simulated Annealing
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Tan, Cher Ming (EDT)
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出版社：In Tech
出版年月：2008年 09月
装丁：HRD
言語：ENG
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税込価格：
44,970円
海外在庫あり
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Future Learning in Primary Schools
A Singapore Perspective
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Chai, Ching Sing (EDT)
Lim, Cher Ping (EDT)
Tan, Chun Ming (EDT)
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出版社：Springer Verlag, Singapore
出版年月：2016年 08月
装丁：PAP
言語：ENG
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税込価格：
12,060円
海外在庫あり
通常２～５週間で出荷
