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Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Modeling, Analysis and Optimization
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Tan, Sheldon
Tahoori, Mehdi
Kim, Taeyoung
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出版社：Springer
出版年月：2019年 10月
装丁：HRD
言語：ENG
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税込価格：
36,188円
海外在庫あり
通常２～５週間で出荷
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Advanced Model Order Reduction Techniques in VLSI Design
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Tan, Sheldon
He, Lei
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出版社：Cambridge University Press
出版年月：2012年 11月
装丁：PAP
言語：ENG
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税込価格：
13,201円
海外在庫あり
通常２～５週間で出荷
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Advanced Model Order Reduction Techniques in VLSI Design
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Tan, Sheldon
He, Lei
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出版社：Cambridge University Press
出版年月：2007年 05月
装丁：HRD
言語：ENG
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税込価格：
38,391円
海外在庫あり
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Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Modeling, Analysis and Optimization
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Tan, Sheldon
Tahoori, Mehdi
Kim, Taeyoung
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出版社：Springer, Berlin; Springer International Publishing;
出版年月：2020年 00月
装丁：PAP
言語：ENG
版次：1st ed. 2019. 2020. xli
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税込価格：
36,188円
海外在庫あり
通常２～５週間で出荷
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Advanced Symbolic Analysis for VLSI Systems
Methods and Applications
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Shi, Guoyong
Tan, Sheldon
Tlelo-cuautle, Esteban
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出版社：Springer Verlag
出版年月：2016年 09月
装丁：PAP
言語：ENG
版次：Reprint
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税込価格：
36,188円
海外在庫あり
通常２～５週間で出荷
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Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
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Shen, Ruijing
Tan, Sheldon X. D.
Yu, Hao
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出版社：Springer Verlag
出版年月：2014年 04月
装丁：PAP
言語：ENG
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税込価格：
27,055円
海外在庫あり
通常２～５週間で出荷
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VLSI Design
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Tlelo-Cuautle, Esteban (EDT)
Tan, Sheldon X.-D. (EDT)
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出版社：In Tech
出版年月：2012年 01月
装丁：HRD
言語：ENG
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税込価格：
44,970円
海外在庫あり
通常２～４週間で出荷
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遺伝子裁判：刑事司法におけるDNAデータバンクの利用
Genetic Justice
DNA Data Banks, Criminal Investigations, and Civil Liberties
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Krimsky, Sheldon
Simoncelli, Tania
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出版社：Columbia University Press
出版年月：2012年 04月
装丁：PAP
言語：ENG
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税込価格：
6,974円
海外在庫あり
通常２～５週間で出荷
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遺伝子裁判：刑事司法におけるDNAデータバンクの利用
Genetic Justice
DNA Data Banks, Criminal Investigations, and Civil Liberties
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Krimsky, Sheldon
Simoncelli, Tania
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出版社：Columbia University Press
出版年月：2010年 11月
装丁：HRD
言語：ENG
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税込価格：
21,799円
海外在庫あり
通常２～５週間で出荷
