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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
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出版社：Springer Verlag
出版年月：2014年 09月
装丁：PAP 言語：ENG -
税込価格：海外在庫あり 通常２～５週間で出荷
27,105円
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ＶＬＳＩ試験の原理とアーキテクチャ
VLSI Test Principles and Architectures
Design for Testability
Systems on Silicon
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出版社：Morgan Kaufmann Publishers in
出版年月：2006年 08月
装丁：HRD 言語：ENG -
税込価格：海外在庫あり 通常２～５週間で出荷
20,097円