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蛍光X線分析の実際

第2版

出版社名 朝倉書店
出版年月 2016年7月
ISBNコード 978-4-254-14103-0
4-254-14103-3
税込価格 6,490円
頁数・縦 265P 26cm
シリーズ名 蛍光X線分析の実際

商品内容

目次

蛍光X線分析の基礎
蛍光X線スペクトル
蛍光X線分析装置
よりよいスペクトルの測り方、読み方
試料調製法
定量分析
標準物質
全反射蛍光X線分析法
X線顕微鏡
SEM‐EDS
めっき・薄膜の分析
ヘンドヘルド蛍光X線分析計
放射光利用
新しいアプローチと特殊応用
蛍光X線分析の実際:応用事例集
分析結果を論文・報告書に書くときの注意事項
法令と届出

出版社・メーカーコメント

試料調製,標準物質,蛍光X線装置スペクトル,定量分析などの基礎項目を平易に解説し,さらに食品中の有害元素分析,放射性大気粉塵の解析,美術品をはじめ文化財への非破壊分析など豊富な応用事例を掲載した実務家必携のマニュアル。

著者紹介

中井 泉 (ナカイ イズミ)  
1953年東京都に生まれる。1975年東京教育大学理学部化学科卒業。1980年筑波大学大学院化学研究科博士課程修了(理学博士)。1982年筑波大学化学系助手。1984年筑波大学化学系講師。1994年東京理科大学理学部助教授。1998年東京理科大学理学部教授(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)