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    表面分析

    分析化学実技シリーズ　応用分析編　１

    出版社名 共立出版
    出版年月 2011年8月
    ISBNコード 978-4-320-04391-6
    （4-320-04391-X）
    税込価格 3,190円
    頁数・縦 １８２Ｐ　２１ｃｍ

    商品内容

    目次

    １　表面分析序論（表面分析の目的・背景
    表面分析の手法　ほか）
    ２　赤外・ラマン分光法（赤外分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴
    ラマン分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴　ほか）
    ３　Ｘ線光電子分光法（ＸＰＳ、ＥＳＣＡ）（ＸＰＳの原理と特徴
    ＸＰＳ装置　ほか）
    ４　二次イオン質量分析法（ＳＩＭＳ）（ＳＩＭＳの原理と特徴
    ＳＩＭＳの装置　ほか）
    ５　番行時間型二次イオン質量分析法（ＴＯＦ‐ＳＩＭＳ
    Ｓｔａｔｉｃ　ＳＩＭＳ）（ＴＯＦ‐ＳＩＭＳの原理と特徴
    ＴＯＦ‐ＳＩＭＳの装置　ほか）
    付録　主な元素の化学シフト

    著者紹介

    石田　英之 (イシダ　ヒデユキ)　　
    １９７２年大阪大学大学院基礎工学研究科化学系博士課程修了・工学博士。現在、大阪大学特任教授（元（株）東レリサーチセンター代表取締役副社長）。専門は物理化学、分子分光
    吉川　正信 (ヨシカワ　マサノブ)　　
    １９８６年大阪大学大学院工学研究科応用物理学科博士課程修了・工学博士。現在、（株）東レリサーチセンター理事兼リサーチフェロー。専門は応用物理学
    中川　善嗣 (ナカガワ　ヨシツグ)　　
    １９８６年京都大学大学院理学研究科物理学第一専攻修士課程修了。現在、（株）東レリサーチセンター表面解析研究部部長。専門は物性物理学、高分子物理学、表面分析
    宮田　洋明 (ミヤタ　ヒロアキ)　　
    ２００２年奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科修士課程修了。専門は光電子分光法、放射光科学、表面分析
    加連　明也 (カレン　アキヤ)　　
    １９８４年大阪大学大学院基礎工学研究科化学系博士前期課程修了。現在、（株）東レリサーチセンター表面科学研究部部長。専門は物理化学、表面分析（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）